桌上型高低溫交變濕熱試驗箱應用于IC,PCB板、晶圓，可控硅，半導體，電阻、電容、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件及其他相關產(chǎn)品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，考核其各項性能指標。可單獨做高溫、低溫；也可用于高溫、低溫的循環(huán)試驗。

一、試驗箱特點

   1、升降溫：優(yōu)化的風道設計及高效制冷加熱系統(tǒng)，提高測試效率；

   2、節(jié)省空間：桌面型設計，占地面積小，便于實驗室或生產(chǎn)現(xiàn)場靈活布置；

   3、安全可靠：多重安全防護措施，如超溫保護、過流保護等，確保實驗過程安全無憂；

   4、操作簡便：觸控式界面，直觀易懂，支持多種預設程序設定，提高測試效率，數(shù)據(jù)記錄準確可靠；

   5、高精度控溫：溫度波動小，采用PID智能溫控算法，溫度波動小，精準度高，滿足不同精度測試要求。

二、使用材料:

   1、內箱材質: SS304不銹鋼鏡面光板；

   2、門框隔熱: 雙層耐高溫老化硅橡膠門密封條；

   3、保溫材質: 聚胺脂硬質發(fā)泡、超細玻璃纖維綿；

   4、外箱材質: 碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理SS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理；

   5、標準配置: 附照明玻璃視窗1套、試品架2個、測試引線孔（50mm）1個。

三、試驗標準：

   1、GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法；

   2、GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法；

   3、GJB150.3-1986   高溫試驗；

   4、GJB150.4-1986   低溫試驗；

   5、GB/T2423.22-2012試驗N：溫度變化試驗方法；

   6、GB/T2423.3-2006 試驗Ca: 恒定濕熱試驗方法。

四、桌上型高低溫交變濕熱試驗箱主要技術參數(shù)：

   1、溫度范圍 ：-40℃～100℃（150℃）；

   2、濕度范圍：標準：20-98%R.H/30-98%R.H；      

   3、升溫時間：平均3℃/分鐘非線性升溫；          

   4、降溫時間：平均1℃/分鐘非線性降溫；

   5、溫度精度：±0.1℃；

   6、溫度均勻度度：±2℃；

   7、內箱尺寸（W*H*D）mm:400*400*300 （mm）；；

   8、外箱尺寸（W*H*D）mm:850*900*950（僅供參考，以實物為準）；